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产品详情
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「导通电阻测试系统」(以下简称「IRE」)是对焊点的电阻・连接部件的接触电阻等的导通电阻,进行快速、高精度、多通道测试的系统。
系统的特点,通过对1SMU(Source Measurement Unit)输出的扫描切换,实现多通道测试。
① 由控制部・测试部两个单元构成。
② 电脑负责测试管理和数据处理。
③ 电脑和测试板之间的I/F,使用LAN(基于以太网Ethernet的串行通讯)。
④ 测试部和控制部的连接仅限LAN线。
⑤ 使用不间断电源,停电时可保护数据。
⑥ 1测试单元最多可搭载10块测试板。

1) AC导通电阻测试
2) DC电压测试
3) DC电阻测试
※测试精度为±(基本精度)/FS。
测试时间计算式
= 扫描切换时间 + 电路时间 + A/D + 电路中断 + 演算・判定时间
= 1ms + 5ms + 20ms + 5ms + 10ms
= 41ms
使用AUTO量程时,除了扫描切换时间以外,还需要考虑量程切换的次数。
测试时间计算式
= 扫描切换时间 + ( 加载・测试时间 × 量程切换次数 )
= 1ms + ( 40ms × 量程切换次数 )
最大时间 = 1ms + ( 40ms × 6 ) = 214ms ※为应对量程发振,最多1次。
1) 温度传感器最多可以连接2CH,最多可以测量1点的温湿度。
2) 使用的温度传感器对应PT100或T型热电偶。
测试规格
有三种:热冲击式・温度定值式・无温度判定式。
使用温湿度测试时,可以用温湿度测试单元,将温度数据中的1个数据和测试数据一起记录下来。
该模式仅限于使用温湿度板时。
(a) 由于,温湿度箱和测试系统是用不同的传感器测量温度的,因此,多少会产生温度偏差。(同一位置传感器的偏差在±2℃以内)
(b) 测试值以高温限定值和低温限定值的设定值为基点,在任意设定的收录待机时间后,在各温度下,测量1次,(将高温及低温作为1个循环,各测1次)各限定值的基准以5℃左右内为目标进行设定,而不是温湿度箱的设定温度。另外,将各试验时间(高温时间、低温时间)的一半作为目标设定收录待机时间。
注)因为,测试系统上搭载的测试板的数量会变动,所以,请不要在温度箱的温度保持时间结束后的3分钟后设定数据收录待机时间。
(2) 设定温度境界值
温度循环是从低温开始还是从高温开始,根据温度境界值和测试开始时的温度(来自温湿度测试的传感器表面温度)来判断。
(来自温湿度板的传感器与温湿度箱的传感器在同一位置时,箱内环境温度是试验开始的温度。)
从低温开始试验时,测试开始时的温度>温度境界值。
从高温开始试验时,测试开始时的温度<温度境界值。
例如)
欲从低温开始试验,测试开始时的温度(25℃) > 温度境界值(20℃以下)
欲从高温开始试验,测试开始时的温度(25℃) < 温度境界值(30℃以下)
或者,达到设定温湿度后,不会随时测试温湿度。

系统的用户界面使用了Windows 10Pro的GUI,可以轻松编辑条件。
◆热冲击模式的条件设定画面例

◆无温度判定模式的条件设定画面例
条件
◆温度模式

显示数据内容
■ 过程数据曲线
纵轴为电阻值;横轴为过程时间。
最多100CH同时显示。

也可以在打印机(选配)上,打印测定数据和过程数据曲线。
可对各温度CH进行修正值设定。
写入修正前温度和修正后温度。
2) 中继电缆和测试线无需工具即可轻松拆卸。
3) 测试线采用特氟龙「FEP」,最高耐热温度为200℃。
※ 测试线属于选配。
系统的特点,通过对1SMU(Source Measurement Unit)输出的扫描切换,实现多通道测试。
① 由控制部・测试部两个单元构成。
② 电脑负责测试管理和数据处理。
③ 电脑和测试板之间的I/F,使用LAN(基于以太网Ethernet的串行通讯)。
④ 测试部和控制部的连接仅限LAN线。
⑤ 使用不间断电源,停电时可保护数据。
⑥ 1测试单元最多可搭载10块测试板。

Ø 测试规格
l SMU板
有3种测试模式1) AC导通电阻测试
2) DC电压测试
3) DC电阻测试
AC导通电阻测试
加载2kHz的交流,测试电阻值。电流加载(AC导通电阻测试)
可从以下5个电流值中选择加载电流,进行测试。(有AUTO加载)No. | 加载 | 加载精度 | 加载频率 | 备考 |
1 | 10uA | ±10% | 2kHz±0.1% | |
2 | 100uA | ±10% | 2kHz±0.1% | |
3 | 1mA | ±10% | 2kHz±0.1% | |
4 | 10mA | ±10% | 2kHz±0.1% | |
5 | 100mA | ±10% | 2kHz±0.1% |
电压限定(AC导通电阻测试)
No. | 限定电压 | 限定精度 | 备考 |
1 | 20mV | +25% |
电阻测试(AC导通电阻测试)(有AUTO测试)
No. | 测试量程 |
最小 分辨率 |
基本精度 | 备考 | ||||
10uA | 100uA | 1mA | 10mA | 100mA | ||||
1 | 2.0000kΩ | 100mΩ | 0.4% | |||||
2 | 200.00 Ω | 10mΩ | 1% | 0.4% | ||||
3 | 20.000 Ω | 1mΩ | 2% | 1% | 0.4% | |||
4 | 2.0000 Ω | 100μΩ | 5% | 2% | 1% | 0.4% | ||
5 | 200.00mΩ | 10μΩ | 10% | 5% | 2% | 1% | 0.4% | |
6 | 20.000mΩ | 1μΩ | 1% | |||||
7 | 2.0000mΩ | 100nΩ | 5% |
AUTO量程(AC导通电阻测试)
自动选择每个CH的最佳量程。
选择电流加载量程和电阻测量量程。
首先选择电阻测量量程,在可使用的电流加载量程中,选择精度最好的电流加载量程。
作为基本动作,如果测定电阻值在电阻量程的10%以下,则将进行量程DOWN,如果测定电阻值在电阻量程的100%以上,则将量程提升。
测试速度(AC导通电阻测试)
平均次数 | 测试时间 |
1次(1电源周期) | 250ms/CH |
l DC电压测试
加载直流电流,测试电压。电流加载(DC电压测试)
No. | 加载量程 | 分辨率 | 范围 | 加载精度 | 备考 | |
1 | 10.000uA | 1nA | 10uA ~ 1nA | ±0.4%/FS | ||
2 | 100.00uA | 10nA | 100uA ~ 10nA | ±0.2%/FS | ||
3 | 1.0000mA | 100nA | 1mA ~ 100nA | ±0.2%/FS | ||
4 | 10.000mA | 1uA | 10mA ~ 1uA | ±0.2%/FS | ||
5 | 100.00mA | 10uA | 100mA ~ 10uA | ±0.2%/FS |
电压测试(DC电压测试)
No. | 测试量程 | 分辨率 | 范围 | 测试精度 | 备考 | |
1 | 2.0000V | 0.1mV | 2V ~ 0.0000V | ±0.2%/FS |
电压限定(DC电压测试)
No. | 限定电压 | 限定精度 | 備考 |
1 | 4.1V | ±0.2V |
测试速度(DC电压测试)
平均次数 | 测试时间 |
1次(1电源周期) | 41ms/CH (电源频率50Hz时) |
测试时间计算式
= 扫描切换时间 + 电路时间 + A/D + 电路中断 + 演算・判定时间
= 1ms + 5ms + 20ms + 5ms + 10ms
= 41ms
No. | 电阻量程 | 加载电流 | 分辨率 | 测试范围 |
1 | 200.00kΩ | 10.000uA | 0.01 kΩ(0.1mV/10 uA) | 200kΩ(2V/ 10uA) ~ 0.00 kΩ |
2 | 20.000kΩ | 100.00uA | 0.001 kΩ(0.1mV/100uA) | 20kΩ(2V/100uA) ~ 0.000 kΩ |
3 | 2.0000kΩ | 1.0000mA | 0.0001kΩ(0.1mV/1 mA) | 2kΩ(2V/ 1mA) ~ 0.0000kΩ |
4 | 200.00 Ω | 10.000mA | 0.01 Ω(0.1mV/10 mA) | 200 Ω(2V/ 10mA) ~ 0.00 Ω |
5 | 20.000 Ω | 100.00mA | 0.001 Ω(0.1mV/100mA) | 20 Ω(2V/100mA) ~ 0.000 Ω |
AUTO量程(DC电阻测试)
因为,测量电压量程只有一个,所以,为了电压变成2V~0.2V,自动选择所加载的电流。测试速度(DC电阻测试)
固定量程内的测试时间与DC电压测试相同。使用AUTO量程时,除了扫描切换时间以外,还需要考虑量程切换的次数。
测试时间计算式
= 扫描切换时间 + ( 加载・测试时间 × 量程切换次数 )
= 1ms + ( 40ms × 量程切换次数 )
最大时间 = 1ms + ( 40ms × 6 ) = 214ms ※为应对量程发振,最多1次。
Ø 温度测试单元
该单元是可选的,一个系统可以使用一台。1) 温度传感器最多可以连接2CH,最多可以测量1点的温湿度。
2) 使用的温度传感器对应PT100或T型热电偶。
测试规格
项目 | 内容 | 备考 |
对应温度传感器 | PT100/T型热电偶 |
PT100 JIS C 1604 T型热电偶 JIS C 1602 |
温度输入点数 | 2点/单元 | |
传感器线径 | 0.65mm~1.6mm | 依据JIS Z-8704标准 |
测试温度范围 | -200℃~+390℃ | |
测试温度分辨率 | 1℃ | |
测试温度误差 | ±1.5℃ |
l 测试模式
有三种:热冲击式・温度定值式・无温度判定式。
使用温湿度测试时,可以用温湿度测试单元,将温度数据中的1个数据和测试数据一起记录下来。
热冲击模式
可收录温度循环中的低温区/高温区中各1点数据。该模式仅限于使用温湿度板时。
(b) 测试值以高温限定值和低温限定值的设定值为基点,在任意设定的收录待机时间后,在各温度下,测量1次,(将高温及低温作为1个循环,各测1次)各限定值的基准以5℃左右内为目标进行设定,而不是温湿度箱的设定温度。另外,将各试验时间(高温时间、低温时间)的一半作为目标设定收录待机时间。
注)因为,测试系统上搭载的测试板的数量会变动,所以,请不要在温度箱的温度保持时间结束后的3分钟后设定数据收录待机时间。
(2) 设定温度境界值
温度循环是从低温开始还是从高温开始,根据温度境界值和测试开始时的温度(来自温湿度测试的传感器表面温度)来判断。
(来自温湿度板的传感器与温湿度箱的传感器在同一位置时,箱内环境温度是试验开始的温度。)
从低温开始试验时,测试开始时的温度>温度境界值。
从高温开始试验时,测试开始时的温度<温度境界值。
例如)
欲从低温开始试验,测试开始时的温度(25℃) > 温度境界值(20℃以下)
欲从高温开始试验,测试开始时的温度(25℃) < 温度境界值(30℃以下)
温度定值模式
达到设定的温湿度,在任意设定的收录待机时间后,按照任意设定的收录间隔进行测试。或者,达到设定温湿度后,不会随时测试温湿度。

无温度判定模式
在与恒温箱的温湿度无关的情况下,进行测试。软件
系统的用户界面使用了Windows 10Pro的GUI,可以轻松编辑条件。
设定条件
以下为条件设定画面举例◆热冲击模式的条件设定画面例

◆无温度判定模式的条件设定画面例

条件
项目 | 内容 |
测试模式 | [AC电阻测试] [DC电阻测试] [DC电压测试]三种可选 |
温度模式 | [温度定值] [温湿度定值] [无温度判定]三种可选 |
总试验循环次数 总试验时间 |
1个试验的温度循环次数或总试验时间 |
经过循环 经过时间 |
循环次数・时间计数的偏离数 已有测试完的数据,作为该数据的后续,在进行测试时设定。 |
温度稳定等待时间 |
高低温区到达开始,到进行测试之间的时间。 设定温度到达稳定的时间 |
平均次数 | 设定对测试数据的平均化次数(通常1次) |
收录间隔 | 记录数据时间间隔 |
加载电流值 | 加载电流值(仅限于DC电压测试) |
高温 | 到达高温区的温度 |
低温 | 到达低温区的温度 |
温度境界值 |
为了判定测试数据是在高温区还是在低温区的设定。 通常,设定高温及低温之间的温度。 |
绝对值判定 | 测试值在限定值以上,判定为NG。 |
高温・低温限定值 | 在热冲击中,可在低温区・高温区分别设定。 |
NG结束 | 设定对发生NG的样品是结束测试,还是继续测试。 |
相对值判定 | 以基准点的测试值为基准,超过变化量或变化率时,判定为NG。 |
判定基准点 | 测试变化量/变化率判定时的基准值 |
变化判定 | 选择变化率或变化量 |
高温・低温判定 |
变化率/变化量 判定 变化率设定为[%]、变化量设定为[mΩ] 热冲击试验中,在低温区・高温区分别设定。 |
◆温度模式
温度模式 | 说明 |
热冲击模式 | 在温度循环的低温区/高温区,各记录1点。 |
温度定值模式 | 到达设定的温度,在设定的待机时间后,按照收录间隔进行测试。 |
无温度判定模式 | 不管温度如何,按收录间隔进行测试。 |
测试数据显示
测试数据如下所示。
显示数据内容
项目 | 内容 |
试验名 | 输入试验名称 |
试验状态 | 试验状态 |
开始时间 | 试验开始的时间 |
经过时间 | 试验经过的时间 |
CH数(结束) | 结束测试的CH数 |
CH数(登录数) | 试验的CH分配数 |
比率 | 试验结束CH的比率 |
随时显示数据 | 随时显示所有数据内的最终数据 |
Bd-Gp-Pt | Bd:测试板编号/Gp:组编号/Ch:通道编号 |
经过时间 | 数据的收录时间(仅限于热冲击以外的测试模式) |
经过循环 | 数据的收录循环(仅限于热冲击模式) |
循环状态 | 高温/低温(仅限于热冲击模式) |
电阻值[Ω] | 监控电阻值(仅限于AC电阻测试・DC电阻测试时) |
变化率[%] | 仅限于绝对值判定,变化率判定时。 |
变化量[Ω/ V] | 仅限于绝对值判定,变化率判定时。 |
电压值[V] | 监控电压值(仅限于DC电压测试时) |
加载电流值[A] | 加载监控电流值 |
温度[℃] | 记录试验箱内的温度 |
数据数量 | 记录数据数量 |
CH状态 | 与状态画面的状態一样的CH状态 |
经过比率 | 循环进步率(热冲击模式)・时间进步率(热冲击意外的测试模式) |
曲线显示
系统显示曲线如下所示。■ 过程数据曲线
纵轴为电阻值;横轴为过程时间。
最多100CH同时显示。

数据导出
测量数据以逗号(、)分段CSV文件形式输出。也可以在打印机(选配)上,打印测定数据和过程数据曲线。
温度修正
在温度记录单元的设定中,干球温度和湿球温度的修正值。可对各温度CH进行修正值设定。
写入修正前温度和修正后温度。
Ø 样品连接
1) 通过中继电缆和测试线与样品连接,然后焊接到样品上。2) 中继电缆和测试线无需工具即可轻松拆卸。
3) 测试线采用特氟龙「FEP」,最高耐热温度为200℃。
※ 测试线属于选配。
Ø 一般规格
控制部 | 电脑 |
PC Windows10 Pro 包含19inch Display |
|
与测试部的连接 | LAN (Ethernet) | ||
其他 | 停电对策 |
不间断电源 停电发生后,收录数据并保存,以确保通电后继续测试。 |
|
收纳单元 | 主机 |
11插槽的外形尺寸: W430×D620×H300mm 重量:约27kg(搭载10块测试板时) 消耗电流:5A 以下(100V 使用时) |
※不含凸起部分 |
耐噪声 | 1μsec 脉冲 2kV 1分钟 | ||
绝缘电阻 | DC500V 100MΩ 以上 | ||
电源 | AC 85V~264V 50/60Hz | ||
使用环境 | 温度+10℃ ~ +40℃ 湿度75%RH 以下(无结露) | ||
存放环境 | 温度-10℃ ~ +60℃ |
构成清单
No. | 名称 | 数量 | 备考 |
1 | 主机 | 1 | 11插槽 |
2 | SMU板 | 1 | |
3 | 扫描板 | 10 | 含模拟总线电缆 200CH |
4 | 扫描板用中继电缆线 | 20 | |
5 | 扫描板用测试线 | 20 | |
6 | 电脑 一台 带增设LAN卡・Office软件 | 1 | 含19inch显示器 |
7 | 不间断电源 220V | 1 | |
8 | LAN线 | 2 | |
9 | 温度记录单元 | ||
10 | 软件安装盘 | 1 | |
11 | 使用说明书 | 1 | |
12 | 校正证明书 | 1 | |
13 | 不间断电源使用说明书 | 1 | |
14 | T型热电偶 5m | 1 |
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